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EMC測試儀器
EMD-625EESD微型器件兼容性測試機臺
TET東京電子株式會社 ESD微型器件兼容性測試機臺 EMD-625E:本測試設備兼容被測器件的各種尺寸,特別是可以支持極小間距的器件,且方便排列器件進行測試。可選擇進行手動操作和半自動測試,在施加靜電后,可支持DC測試。
產(chǎn)品分類
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品牌 | TET | 應用領域 | 能源,電子/電池,道路/軌道/船舶,電氣,綜合 |
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TET東京電子株式會社 ESD微型器件兼容性測試機臺 EMD-625E:
本產(chǎn)品對于目視困難的微細間距DUT和微小尺寸DUT等半導體器件可進行準確的探測。
另外,可不用探針進行晶圓等級的ESD試驗:
1.適合各種形狀的樣品。
2.理想的微型器件ESD測試。
3.可通過選件實現(xiàn)HBM,MM測試。
4.HBM測試最高8KV。
ESD 模擬器
·MR/GMR頭
·小零件、芯片
·LCD 板
·TR、IC 二極管等
·LCD 板·小模塊
·PC 板功率,信號 Pins
·lC 卡、Memory 卡
通用指標
·測試 pin: 單 pin
·滿足標準: JEDEC,AEC,EOS
·DC 測試功能: 最大 30V/ 1A,(最小10mV/10nA )*
·測試電壓: HBM 125V~8KV : MM 10V~2KV·ESD 脈沖數(shù): 1~10 或連續(xù)
·DUT 固定部件: IC 插孔或僅被測件
·HBM 應用
·HBM 應用和破壞判斷功能
·MM 應用
·MM 測試和破壞判斷功能
詳情請聯(lián)系
公司郵箱: jfyp@tu-zhe.cn
服務熱線: 021-61656613
公司地址: 上海市浦東新區(qū)金橋路939號207室
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